Kursy
 Nasze kursy
 Terminarz
 Programy kursów
 Cykle szkoleniowe
 Informacje organizacyjne
 Zgłoszenie
 Broszura w pdf
Inne usługi
 Kursy na zamówienie
 Usługi konsultingowe
 Usługi implementacyjne
 Statystyka w badaniach
naukowych

 Seminaria
 Studia podyplomowe
 Opinie o kursach




Analiza przemysłowych systemów pomiarowych - MSA

Opis kursu: Kurs przeznaczony jest dla wszystkich zainteresowanych wykorzystaniem pakietu STATISTICA do wykonywania zadań wynikających z wymagań systemu nadzorowania i sterowania procesami pomiarowymi stosowanymi w przemyśle do oceny zgodności wyrobów i procesów wytwarzania z wymaganiami odpowiednich specyfikacji technicznych. Prezentowane zagadnienia obejmują wymagane przez normy ISO/TS16949 zasady i procedury uzyskiwania potwierdzenia metrologicznego, które jest niezbędnym warunkiem do tego, aby system pomiarowy mógł być zaakceptowany do realizacji danego zadania przemysłowego. Wykonywane ćwiczenia praktyczne mają na celu przygotowanie uczestników kursu do realizacji takich zadań jak: weryfikacja zdolności systemu pomiarowego do oceny procesu produkcji, czy też monitorowanie zdolności pomiarowej systemów w rzeczywistych warunkach ich eksploatacji. Większość omawianych podczas kursu procedur zgodna jest z zaleceniami, cieszącego się dużym uznaniem w przemyśle samochodowym, przewodnika pt: "Measurement Systems Analysis - MSA" (Third Edition, 2002) opracowanego przez konsorcjum AIAG powołane przez DaimlerChrysler Corporation, Ford Motor Company i General Motors Corporation.

Kurs ten jest polecany w cyklu szkoleń Six Sigma.

Wymagania: umiejętność obsługi komputera w środowisku Windows, podstawowa znajomość pakietu STATISTICA. Zalecamy wcześniejszy udział w kursie Statystyka w jakości - kurs podstawowy lub STATISTICA kurs podstawowy lub Statystyka dla niestatystyków.

Kontynuacją mogą być kursy: Analiza danych pomiarowych i sygnałów, Kompleksowy system sterowania jakością STATISTICA Enterprise/QC.

Terminy: 30.05.2012

Program kursu:

  • System pomiarowy i jego struktura
    • Proces pomiarowy i wyrażanie jego wyniku
    • Wpływ elementów systemu na składowe wyniku pomiarów
  • Właściwości przemysłowych systemów pomiarowych wynikające z norm ISO/TS 16949
    • Czułość i rozdzielczość
    • Dokładność (poprawność i precyzja)
    • Powtarzalność i odtwarzalność (R&R)
    • Liniowość
    • Stabilność
  • Zdolność miernika (Cg, Cgk)
  • Analiza systemów pomiarowych dla oceny alternatywnej
  • Warsztaty