Kursy
 Nasze kursy
 Terminarz
 Programy kursów
 Cykle szkoleniowe
 Informacje organizacyjne
 Zgłoszenie
 Broszura w pdf
Inne usługi
 Kursy na zamówienie
 Usługi konsultingowe
 Usługi implementacyjne
 Statystyka w badaniach
naukowych

 Seminaria
 Studia podyplomowe
 Opinie o kursach




SPC 1 - karty kontrolne

Opis kursu: Na kursie uczestnicy zapoznają się z najważniejszym typem analizy stosowanej w statystycznym sterowaniu jakością, jakim są karty kontrolne Shewharta. W trakcie kursu omawiane są wszystkie najważniejsze rodzaje kart kontrolnych zarówno dla pomiarów liczbowych jak i dla pomiarów alternatywnych. Dla prezentowanych kart kontrolnych omawiane są podstawy teoretyczne oraz prezentowane są przykłady ich zastosowania (w programie STATISTICA) oraz interpretacji. W trakcie kursu omawiane są również przypadki, kiedy nie można stosować standardowych kart kontrolnych oraz niestandardowe sposoby poprawnego analizowania danych w takich sytuacjach. Po kursie uczestnik będzie w stanie samodzielnie dobrać dla procesu odpowiednią kartę kontrolną, przeprowadzić analizę oraz odpowiednio zinterpretować jej wyniki.

Kurs ten jest polecany w cyklu szkoleń Six Sigma.

Wymagania: umiejętność obsługi komputera w środowisku Windows, podstawowa znajomość pakietu STATISTICA. Zalecamy wcześniejszy udział w kursie Statystyka w jakości - kurs podstawowy, STATISTICA - kurs podstawowy lub Statystyka dla niestatystyków.

Kontynuacją mogą być np. kursy: SPC 2 - zaawansowane karty kontrolne, SPC 3 - analiza zdolności procesu, Analiza przemysłowych systemów pomiarowych - MSA, DOE - komputerowe wspomaganie planowania i analizy statystycznej badań innowacyjnych, Statystyka w walidacji metod pomiarowych, Analiza danych pomiarowych i sygnałów, Statystyka w systemach zarządzania jakością ISO 9001 i ISO/TS 16949.

Terminy: 12-13.04.2012

Program kursu:

  • Wprowadzenie do programu STATISTICA
  • Metody i filozofia statystycznego sterowania procesami
    • Podstawowe zasady
    • Dobór granic kontrolnych
    • Dobór liczności próbki i czasu próbkowania
    • Analiza wzorców przebiegu
    • Implementacja SPC
    • Przykłady i ćwiczenia
  • Karty kontrolne dla pomiarów liczbowych
    • Karta kontrolna X-śr i R
    • Karta kontrolna X-śr i S
    • Karta pojedynczych obserwacji i ruchomego rozstępu (I/MR)
    • Przykłady i ćwiczenia
    • Zastosowania kart dla pomiarów liczbowych
  • Karty kontrolne dla pomiarów alternatywnych
    • Karty dla liczby defektów (C, U)
    • Karty dla liczby elementów niezgodnych (Np, P)
    • Przykłady i ćwiczenia
  • Inne metody sterowania jakością
    • Karta sum skumulowanych (CUSUM)
    • Karta wykładniczo ważonej średniej ruchomej (EWMA)
    • Karta kontrolna krótkich serii
    • Przykłady i ćwiczenia
  • Karty kontrolne dla właściwości o rozkładzie innym niż normalny
  • Zastosowanie kart kontrolnych w metodzie Sześć Sigma