![]() |
|
|
![]() SPC 1 - karty kontrolneOpis kursu: Na kursie uczestnicy zapoznają się z najważniejszym typem analizy stosowanej w statystycznym sterowaniu jakością, jakim są karty kontrolne Shewharta. W trakcie kursu omawiane są wszystkie najważniejsze rodzaje kart kontrolnych zarówno dla pomiarów liczbowych jak i dla pomiarów alternatywnych. Dla prezentowanych kart kontrolnych omawiane są podstawy teoretyczne oraz prezentowane są przykłady ich zastosowania (w programie STATISTICA) oraz interpretacji. W trakcie kursu omawiane są również przypadki, kiedy nie można stosować standardowych kart kontrolnych oraz niestandardowe sposoby poprawnego analizowania danych w takich sytuacjach. Po kursie uczestnik będzie w stanie samodzielnie dobrać dla procesu odpowiednią kartę kontrolną, przeprowadzić analizę oraz odpowiednio zinterpretować jej wyniki. Kurs ten jest polecany w cyklu szkoleń Six Sigma. Wymagania: umiejętność obsługi komputera w środowisku Windows, podstawowa znajomość pakietu STATISTICA. Zalecamy wcześniejszy udział w kursie Statystyka w jakości - kurs podstawowy, STATISTICA - kurs podstawowy lub Statystyka dla niestatystyków. Kontynuacją mogą być np. kursy: SPC 2 - zaawansowane karty kontrolne, SPC 3 - analiza zdolności procesu, Analiza przemysłowych systemów pomiarowych - MSA, DOE - komputerowe wspomaganie planowania i analizy statystycznej badań innowacyjnych, Statystyka w walidacji metod pomiarowych, Analiza danych pomiarowych i sygnałów, Statystyka w systemach zarządzania jakością ISO 9001 i ISO/TS 16949. Terminy: 12-13.04.2012 Program kursu:
|
|